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2026-10-15
【華爲黃宇:韜定律最大挑戰在於EDA工具】10月15日訊,華
【華爲黃宇:韜定律最大挑戰在於EDA工具】10月15日訊,華爲半導體EDA首席科學家黃宇今日在2026灣芯展上表示,華爲的韜定律主要分四層:最基礎的器件層,優化晶體管結構和互聯方式,從源頭壓縮器件時間常數;第二層是鏈路層,這是我們最大的創新點;第三層是芯片層,軟硬件協同設計,形成新架構;第四層是系統層,即大家熟知的超級節點、機櫃互聯,需要更好的通訊協議和更快的速度。其表示,“韜定律最大挑戰在於EDA工具。同時,工藝挑戰、工程挑戰和系統設計挑戰也都存在。”
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